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仪器简介：
AXIS Ultra DLD（日本岛津Kratos公司）型多功能能谱仪可以提供有关固体表面和界面的化学信息。可以一次全分析除氢、氦以外的所有元素，并可以提供测定相对含量的半定量分析。最具有特色的是XPS可以测定元素的化学价态及化学环境的影响。此外，通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息。
主要功能：
※ X射线光电子能谱（XPS），可使用单色化Al靶X射线源及双阳极Al/Mg靶X射线源，包括大面积XPS（0.8×2 mm），微区XPS（最小选区15 μm）、深度剖析XPS及XPS成像，最小能量分辨率0.48 eV（Ag 3d5/2），成像空间分辨率＜3 μm；
样品要求：
※ 固体样品（面积≤1.0 cm2，高（厚）度≤4.0 mm）或粉末固体样品（≥20 mg）；
※ 真空干燥，不含腐蚀性、易挥发性、磁性及放射性物质。
应用领域：
主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。 广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。
网上参考数据库：
NIST数据库
LaSurface数据库
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