随着物联网的兴起,作为其关键一环的射频识别(RFID)技术发展迅猛,其应用正在快速增长。如何确保RFID产品的兼容性及与标准的一致性、如何评价其性能,以及如何选择满足特定应用需求的产品等,都是产品供应商、系统集成商和终端用户共同关心的问题。
上海集成电路技术与产业促进中心(ICC)检测实验室针对UHF RFID芯片、标签、读写器产品开展射频协议一致性、性能、现场应用等测试、调试服务。
射频协议一致性测试
射频一致性测试是测试标签反向散射或读写器发射的无线信号质量,测量无线信号关键参数。主要测量物理层参数如调制制式、调制深度、载波包络、信号上升/下降沿和占空比、频率误差、频谱模板、带宽、功率及频率分布等反映信号调制域、时域、频域指标的项目。
协议一致性测试主要针对时序、指令及其组合和状态机转移流程的测量。用于验证标签/读写器的协议层满足标准规定的匹配程度。
支持国际、国家多个空口协议标准:
● ISO 18000-6C / EPC Class1 Generation2
● GB/T 29768-2013 、GB/T35102
采用业界公认的认证检测系统,由RFID协议仿真器和通用高精度仪表构成,可采用有线、无线两种测试模式。
性能测试
● 标签性能测试
遵循EPCTM Tag Performance Parameters and Test Methods测试标准,在电波暗室环境中,对标签性能进行测试。
主要的测量指标包括:识读距离、方向容限、频率容限、干扰容限、反向散射距离、写距离、写时间、临近标签等。
● 读写器性能测试
主要测试读写器灵敏度、抗干扰能力、多标签防碰撞能力等。
贴标物品性能协议 GS1 TIPP
Tagged-Item Performance Protocol(TIPP)是GS1 US为零售商和供应商提供的一套贴标物品性能测试评价方法。与以往电子标签的测试评价方法不同,TIPP针对贴在具体物品上的标签进行性能评价,并采用分级制度,合并相似的性能规格形成若干等级(Grade),以简化零售商和供应商对贴标物品性能要求的协商过程。该评价系统采用Arkansas Radio Compliance测试方法,以灵敏度、反向散射功率、方向性和频率等四个性能指标作为分级因素,通过简单的命名直观地表达等级在配置、性能和方位上的特性。
进一步了解TIPP协议,可访问GS1 US网站下载最新规范文件。
阻抗测试及自动匹配
● 测试不同入射能量下的标签芯片的阻抗
标签芯片的阻抗是入射功率的函数,单纯使用50欧姆端口的矢量网络分析仪测试,存在夹具制备难度大,测量精度低和测量成本高等各方面困难。ICC从测试的思路出发,使用去嵌入的方式对阻抗进行测量,大大降低了测量成本,数据准确,测试一致性和可重复性高。
● 标签芯片自动化阻抗匹配
一般进行芯片灵敏度测试需要人工匹配阻抗,这样的方式耗时长、匹配偶然性大,操作繁琐,对技术人员的经验和能力也提出了极高的要求。ICC基于Maury公司的Tuner开发出了阻抗自动调谐系统,可以实现芯片自动化匹配检索,得到理想的匹配数据。在此基础上进行灵敏度测量,高效、准确、一致性高。
● 测试不同发射功率下的阅读器输出阻抗
阅读器在不同的发射功率,阻抗表现也不一样,常规的矢量网络分析仪S11测量只能对其输入阻抗进行测试,ICC通过引入Maury的自动调谐器(Tuner)对其输出端进行自动匹配,可以准确找出输出阻抗共轭值,从而得出准确的阅读器输出阻抗。
上海集成电路技术与产业促进中心是国家集成电路设计产业化基地以及国家“芯火”计划双创平台,着力建设和发挥集成电路设计专业技术服务、高新技术领域项目管理、集成电路产业化促进三大功能。提供多项目晶圆(MPW)、 工程批及量产流片服务、EDA/IP资源服务、RFID和高速信号完整性检测服务、硬件加速仿真服务等专业技术服务。