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1.服务简介：
该项服务主要为芯片提供可靠性检测。
使用的设备包括：高温试验箱、快速温度变化试验箱、高低温冲击试验箱、高低温湿热试验箱、高加速寿命试验箱、高低温冲击气流仪、静电放电测试系统、ESD和闩锁测试系统、金相显微镜、超声波扫描显微镜、多功能微焊点强度测试机等。
2.服务内容：
包括半导体芯片的环境压力加速测试、使用寿命模拟测试、封装组装整合测试、电性能测试、封装凹陷整合测试等各类试验项目。
3.适用范围：
对芯片高可靠性有需求的客户，涵盖汽车电子等领域。
4.服务流程：
客户提出需求—设计方案—测试服务—出具报告
5.收费标准：
以下为主要项目价格，具体需根据项目实际方案，以最终报价单为准：
测试项目 | 项目描述 | 价格（不含税） | 单位 | |
环境压力加速测试 | TCT | 温度循环试验 | 45-1000 | /小时 |
TS | 温度冲击试验-气槽或液槽 | 60-1000 | /小时 | |
HTSL | 高温存储寿命试验 | 16-1000 | /小时 | |
LTSL | 低温存储寿命试验 | 18-1000 | /小时 | |
THB | 温湿度偏压寿命试验 | 20-1000 | /小时 | |
THST | 温湿度存储寿命试验 | 14-1000 | /小时 | |
PCT/AC | 高温水蒸气压力试验 | 20-1000 | /小时 | |
UHAST | 无偏压高加速寿命试验 | 20-1000 | /小时 | |
BHAST | 偏压高加速寿命试验 | 23-1000 | /小时 | |
PTC | 功率温度循环试验 | 80-1000 | /小时 | |
HTRB | 高温反向偏压试验 | 16-1000 | /小时 | |
HTGB | 高温栅偏试验 | 16-1000 | /小时 | |
使用寿命模拟测试 | HTOL | 高温操作寿命试验-老练 | 400-1000 | /小时 |
LTDR、UCHTDR、PCHTDR | 非易失性存储器-低温数据存储耐久力试验、未经循环擦写的高温数据保持力试验、循环擦写后的高温数据保持力试验 | 18-400 | /小时 | |
EDR | 非易失性存储耐久性、数据保持性、工作寿命验证 | 40-400 | /小时 | |
LTOL | 低温工作寿命试验 | 22-400 | /小时 | |
ELFR | 早期寿命失效率验证 | 40-400 | /小时 | |
NVCE | 非易失性存储器循环擦写耐久性试验 | 40-400 | /小时 | |
封装组装整合测试 | External Visaul Inspection | OM外观检查 | 650 | /小时 |
Reflow | 回流焊 | 800 | /小时 | |
SAT | 超声扫描 | 1000 | /小时 | |
Solderability | 可焊性试验 | 2000-3000 | /批 | |
WBP、WBS、SBS、SBP | 焊线拉力测试、焊点剪切力测试、锡球剪切力测试、锡球拉力测试 | 50 | /个 | |
DS | 芯片剪切力测试 | 200 | /颗 | |
电性能测试 | ESD-HBM、MM、CDM | 器件充电模型、人体放电模型、机器放电模型 | 800-2000 | /小时 |
LU | 闩锁测试 | 1000-2000 | /小时 | |
IV Curve Test | 曲线测试 | 1000-2000 | /小时 | |
FT | 功能测试（ATE） | 600-2000 | /小时 | |
6.服务团队：
联系邮箱：gxz_sales@xz-testing.com
技术负责人：Frank Li, 13585592393，frankli@xz-testing.com
国芯准成立于2020年，是一家聚焦半导体检测的第三方实验室，为高新技术企业。现有北京大兴、上海外高桥两个实验区，总面积8600+平方米，主营业务包括集成电路和电子元器件的可靠性检测、失效分析等，广泛应用于汽车电子等高可靠性领域，已完成多款车规级芯片的检测认证并得到主机厂的高度认可。
