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加速寿命试验 (Accelerated Lifetime Test)：
半导体元件加速寿命试验，主要是透过温度，电压或电流等，对芯片(device)实际运作的寿命时间模拟。产品测试需要使用老化板(Burn in board)，测试温度的考量需得考虑到使用者的环境以及芯片本身的结温(Junction Temperature)进行设定。常见的加速寿命试验如下述两类：
1.高温寿命试验 (HTOL，High Temperature Operating Life Test) ：测试目的是利用高温及电压加速测试，以评估芯片长时间的使用寿命，测试中加入的是动态讯号而非静态偏压，更贴近实际的产品使用状态。
2.早夭失效率试验 (ELFR，Early Life Failure Rate)：测试目的是利用高温及电压加速测试来找出早夭产品，进而评估产品的早夭比率，测试中加入的是动态讯号而非静态偏压。
寿命与失效率预估 (Lifetime and Failure Rate Prediction)：
以温度为主要加速因数 (Accelerated Factor，AF) 之可靠度试验，多以阿瑞尼亚氏方程序(Arrhenius’ Equation) 的指数方程序为基础，选择适当的活化能(Activation Energy) 估算加速度倍数差异。透过加速寿命试验可以推估在特定的信心水准下的使用寿命。
半导体元件，多以FIT (Failure In Time) 与 MTTF (Mean Time To Failure) 两者计算之。然，对于使用者而言，不论是FIT或者MTTF，均不易告诉客户该元件未来所面临之风险有多高，反而造成误解，且对于生产备料库存管理，形成困难。
另一个常用的寿命估算方式，有别于传统FIT或 MTTF模式，以使用需求时间 (例如10年) 除以加速因数，来推算所需要的测试时间，车用电子即为典型的代表。
闳康技术检测（上海）有限公司于2006年3月在张江高科技园区成立，目前在张江高科技园区和金桥工业园区共有4间实验室，致力于为高科技产品提供失效分析、结构分析、材料分析及可靠性测试等全面的诊断服务，已成为国内IC设计、晶圆代工，封装测试以及TFT-LCD、LED、太阳能电池、奈米组件等高科技产业的专业研发伙伴。 为了给高科技产品提供精准的诊断结果，闳康各实验室所使用的分析检测设备性能优越、品种齐全，从非破坏性检测的设备，如X光扫描机(X-ray)、超音波扫描机(SAT)到失效分析所需的设备如去封胶(Decapsulation)、试片制备、打线、失效点定位用微光显微镜(EMMI,OBIRCH, InGaAs detector)、聚焦式离子束显微镜(FIB)、扫描式电子显微镜(SEM)，以及可靠度验证所需的高温寿命试验(HTOL)、温度冲击试验(TST)、温度循环试验(TCT)、高加速温湿度试验(HAST)等机台，均采用世界知名品牌。各产品分析、故障分析乃至于静电防护测试(ESD)、可靠度验证的服务设备一应俱全。近年来国内高科技产业发展迅猛，为了符合客户的多元分析需求，上海闳康更陆续引进了穿透式电子显微镜TEM、二次离子质谱仪SIMS、X光光电子能谱仪XPS、3D X光扫描机(3D X-ray)、MK.4 静电放电和闩锁测试系统等处于国际领先地位的高端分析设备，为客户产品提供更加精确高效的诊断服务。 好医院不仅需要好设备，更需要技术精良的好医生以及一切为病人着想的服务态度。闳康不仅有业界领先的分析测试设备，更拥有一支坚强的专业技术团队。闳康的技术团队主要来自国际级半导体厂的分析实验室和研发部门，资深主管平均有十年以上业界资历。他们凭借深厚的技术经验能快速深入得了解客户需求，并给客户提供有效的分析测试方案。同时为了帮助客户提高产品研发效率和制程良率，闳康提供365天，24小时不间断的专业服务，并在提供精准分析结果的基础上给客户提供进一步的诊断咨询服务，更可为客户量身订制专案计划服务。 上海闳康已先后通过ISO 9001质量体系认证、IECQ17025专业实验室质量认证以及ISO/IEC 27001信息安全认证，可提供具有法律效力的分析测试报告。加盟上海市研发公共平台和牵翼网后，上海闳康在2016年度和2017年度均荣获“上海市科技创新券优秀服务机构”荣誉称号，是高科技产业值得信赖的医学中心和研发伙伴。
